XRF之X射線元素成分分析儀

X射線熒光光譜儀(yi) （X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀(yi) ），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。

XRF用X光或其他激發源照射待分析樣品，樣品中的元素內(nei) 層電子被擊出後，造成核外電子的躍遷，在被激發的電子返回基態的時候，會(hui) 放射出特征X光；不同的元素會(hui) 放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波長特性。

不同元素發出的特征X射線熒光能量和波長各不相同，因此通過對其的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發出的，進行元素的定性分析。射線強度與(yu) 相應元素在樣品中的含量有關(guan) ，因此通過測試其強度實現元素的定量分析。

檢測器(Detector)接受這些X光，儀(yi) 器軟件係統將其轉為(wei) 對應的信號。這一現象廣泛用於(yu) 元素分析和化學分析，在某種程度上與(yu) 原子吸收光譜儀(yi) 實現互補。