奧林巴斯光譜分析儀是如何分辨待測元素的？

  奧林巴斯光譜分析儀(yi) 是一種基於(yu) XRF光譜分析技術，是一種快速、有效、低成本的元素分析分析設備。當能量高於(yu) 原子內(nei) 層電子結合能的高能X射線與(yu) 原子發生碰撞時,驅逐一個(ge) 內(nei) 層電子從(cong) 而出現一個(ge) 空穴,使整個(ge) 原子體(ti) 係處於(yu) 不穩定的狀態,當較外層的電子躍遷到空穴時,產(chan) 生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(ge) 次級光電子，發生俄歇效應,亦稱次級光電效應。所逐出的次級光電子稱為(wei) 俄歇電子。當較外層的電子躍入內(nei) 層空穴所釋放的能量不被原子內(nei) 吸收,而是以光子形式放出,便產(chan) 生X射線熒光，其能量等於(yu) 兩(liang) 能級之間的能量差。射線熒光的能量或波長是特征性的,與(yu) 元素有一一對應的關(guan) 係。由Moseley定律可知，隻要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與(yu) 相應元素的含量有一定的關(guan) 係,據此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易於(yu) 測量的電信號來得到待測元素的特征信息。