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xrd衍射儀怎麽處理樣品?

更新時間:2021-05-28      點擊次數:2872
  xrd衍射儀利用X射線在晶體中的衍射現象來獲得衍射後X射線信號特征,經過處理得到衍射圖譜。利用譜圖信息不僅可以實現常規顯微鏡的確定物相,並擁有“透視眼”來看晶體內部是否存在缺陷(位錯)和晶格缺陷等。

  xrd衍射儀(yi) 是采用輻射探測器和測角儀(yi) 來記錄衍射峰位置及強度的分析儀(yi) 器。常用的衍射儀(yi) X射線衍射儀(yi) 主要由X射線發生器、衍射測角儀(yi) 、輻射探測器、測量電路、控製操作和運行軟件的電子計算機係統組成,核心部件是測角儀(yi) 。XRD衍射儀(yi) 擁有對樣品的破壞性微小、檢測快速、操作簡單、數據處理方便等優(you) 點,冶金、機械、地質、化工、礦物、陶瓷、建材、耐火材料、天航空、能源、生物工程等諸多領域都得到了廣泛應用。

  xrd衍射儀(yi) 在使用時的注意事項:
  (1)固體(ti) 樣品表麵>10×10mm,厚度在5μm以上,表麵須平整,可以用幾塊粘貼一起。

  (2)對於(yu) 片狀、圓拄狀樣品會(hui) 存在嚴(yan) 重的擇優(you) 取向,衍射強度異常,需提供測試方向。

  (3)對於(yu) 測量金屬樣品的微觀應力,測量殘餘(yu) 奧氏體(ti) ,要求製備成金相樣品,並進行普通拋光或電解拋光,消除表麵應變層。

  (4)粉末樣品要求磨成320目的粒度,直徑約40微米,重量大於(yu) 5g。

 

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