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光譜儀 鍍層厚度無損分析 金屬材質分析儀

簡要描述:光譜儀(yi) 鍍層厚度無損分析 金屬材質分析儀(yi) Vanta分析儀(yi) 是我們(men) 提供的高級手持式X射線熒光(XRF)設備,可以滿足用戶在野外環境獲得實驗室水平分析結果的要求。 它可以進行快速、準確的元素分析和合金辨別,實現高通量的XRF檢測。

  • 產品型號:VEL
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2025-02-10
  • 訪  問  量:902

詳細介紹

品牌OLYMPUS/奧林巴斯行業專用類型通用
價格區間10萬-30萬儀器種類手持式/便攜式
應用領域環保,化工,地礦,建材,電子

Vanta分析儀(yi) 是我們(men) 提供的高級手持式X射線熒光(XRF)設備,可以滿足用戶在野外環境獲得實驗室水平分析結果的要求。 它可以進行快速、準確的元素分析和合金辨別,實現高通量的XRF檢測。

Vanta手持式XRF分析儀(yi) 的構造堅固。其機身設計結實耐用,可在具有挑戰性的工業(ye) 環境中避免受到損傷(shang) ,因而可以正常工作更長時間,並降低用戶的擁有成本。

Vanta XRF係列分析儀(yi) 的用戶界麵簡單直觀,軟件可自行定製,您隻需接受基礎培訓,即可輕鬆使用分析儀(yi) ,獲得高通量,並迅速獲得投資回報。Vanta分析儀(yi) 采用專(zhuan) 有的創新型Axon技術,無論檢測環境或工作條件如何,都可以為(wei) 您提供準確的結果,並有助於(yu) 提高生產(chan) 率。

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